系統概述：
在當今的計算機、通信、消費電子產品中，幾乎都有印刷電路板 (簡稱 PCB)，PCB 作為有源芯片和無源器件(電阻、電容和電感等) 的載體，可以有效傳遞電流或電壓信號。由于這些電子產品的信號速率越來越高，從 MHz跨越到了 GHz，從傳統的數字電路頻段跨越到射頻和微波頻段，因此給電子產品的設計帶來了兩方面的挑戰。
一方面，高速數字信號在傳輸時，必須保證 PCB 上傳輸線的阻抗連續性，如果阻抗不連續或者不匹配，會導致接收端信號的波形變差、抖動增大、眼圖惡化。因此，必須測量傳輸線的阻抗; 另一方面，10 Gbps的電路板越來越多，在 5 GHz 以上時，PCB 上布線的趨膚效應和介質的損耗正切將影響產品的性能，而插入損耗是最直觀的描述有損傳輸線的參數，因此，越來越多的客戶要求測量 PCB 上各種傳輸線的插入損耗。
目前，PCB 板廠在測試這些高速PCB 時，面臨以下問題:
1. 由于傳統的 TDR 基于采樣示波器，為了提高靈敏度和帶寬，犧牲了產品的抗靜電能力，在產線應用中非常容易被靜電損壞；
2. 一塊PCB上有多種阻抗要求的傳輸線需要測量，測試工程師需要按照順序測量相關傳輸線，而TDR儀器廠商的內置軟件無法滿足PCB產線測試的要求；
3. 可能需要同時測量板邊的COUPON或板內的傳輸線，測量COUPON的數量巨大，對探頭的磨損很大；而測量板內傳輸線要求探針的間距可調節；需要較低成本的、有足夠靈活性的探頭；
4. 在 PCB 板廠，測試傳輸線插入損耗的需求越來越迫切，Intel的SET2DIL方法是IPC規范中推薦的大批量PCB的損耗測量方法，某些廠商提供的測試儀器基于傳統TDR，測試速度慢，效率低；
系統特點：
偉通成科技的高速 PCB 測試方案基于是德科技的矢量網絡分析儀 E5063A/E5071C和自行開發的阻抗測試軟件TDR2R以及損耗測試軟件ENASET2DIL。這套測試方案的優點在于:
1. 偉通成科技的 E5063A/E5071C在儀器內部使用了靜電防護電路，具有很強的抵抗 ESD損害能力；相比傳統的TDR，E5063A的動態范圍更大、測試精度更高；
2. 偉通成科技的PCB阻抗和損耗測試軟件可兼容多個廠商的PCB SPEC，可使用腳踏板記錄數據，快速的測量傳輸線的阻抗和損耗，并且自動可以生成報告；
3. 偉通成科技開發的TDR探頭可低成本的更換探針，既可測量COUPON，也可測量板內傳輸線,維護費用較低，適合生產線上測試量較大的應用。
圖1：阻抗測試軟件TDR2R
圖2：PCB阻抗測試探頭MP100A
圖3：基于SET2DIL的PCB損耗測試軟件
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